7-DRSpec探测器光谱响应测试系统
产品介绍：
探测器作为基于光电效应的光电转换器件，其核心性能——光谱响应度，直接由材料的光谱选择特性决定。我公司的7-DRSpec探测器光谱响应测试系统，正是为精确表征这一关键性能而设计的专业解决方案。该系统通常基于标准替代法或调制法构建，集成高稳定性的复合光源（如氘灯与卤钨灯）、高精度光栅单色仪、光学斩波器及锁相放大器等核心模块。它能够自动化、高精度地测量探测器在特定波长（例如覆盖紫外、可见至近红外波段）的光谱响应度、量子效率、线性度等参数。通过对比经国家计量院溯源的标准探测器，系统可实现对被测器件的绝对定标，其软件平台支持一键式测试与数据分析，显著提升了在研发验证、产线筛选及品质检测等环节的效率和可靠性，符合国家计量技术规范 JJF 1150-2006《光电探测器相对光谱响应度校准规范》规定的测试方法和测试要求，是探测器光谱响应测试的首选设备。
产品特点：
1.光谱范围宽，适用面广宽光谱范围可适用于各种不同样品，如响应在日盲区的深紫外探测器；响应在可见光的太阳能电池；响应在近红外的光纤传感器；响应在中远红外的光电传感器，都可以在本系统上测量光谱响应度
2.监视光路，方便样品定位
3.采用监视光路，使用高精度显微镜配合CCD 相机实现对微小器件的可视化控制，可清楚观察暗室内测试光斑与样品有效区域的位置关系，配合精密位移台实现样品精确定位
4.TurnKey”理念，“OneKey”应用，系统集成度高。秉承“交付即使用”的“TurnKey”理念，我们将系统设计
为高度集成结构。在保留模块化系统兼容性高和升级空间大的前提下，将众多调整环节整合，达到无需多加调整即可使用。为免除定标的繁琐操作，本系统采用替代法进行测试。替代法作为现行的国家级计量部门通用的测试方法，与传统方法相比避免了对系统中各相关部件分别定标的繁琐以及多项误差的引入，具有更准确，更方便的特点
5.针对不同器件的结构特点，配置不同的测试模式，配合两种不同的光路形式
5.1.有效面积小的样品，需要通过照度法进行响应度的测试。采用积分球匀质光路设计，光均匀度高在宽光谱范围的光学设计中，采用积分球实现光的匀质输出是一种常用的手段。积分球内设置合理的挡板可有效防止入射光的直接出射，保证输出光的匀质要求
5.2.有效面积大的样品，可采用通量法进行响应度的测试。采用全反射式成像光路，可提高光利用率，增大测试信噪比。在宽光谱范围的光学设计中，反射式光路要比透射式光路具有更高的成像质量。透射式光学系统中影响成像的重要因素是色差，其来源是不同波长的辐射在光学材料中的折射率不同，波长范围越宽，色差越明显。在反射式的光学系统中，由于不涉及折射，所以不存在色差。因此采用反射式光路，成像质量会优于透射式光路
测试项目：
绝对光谱响应曲线（A/W或V/W）；相对光谱响应曲线；内/外量子效率曲线（%）；等效噪声功率（NEP）；比探测率（D*）；响应时间（s）；线性度；以及暗电流（A）；偏置电压下的光谱响应度及外量子效率；指定波长下的I-V特性测试
测试系统样品室采用暗箱避光设计结构，同时便于取放样品或进行调整操作。样品室内上方为主光光源出光口，出光口角度出厂前已调整好，可准确照射在样品及探测器上；通过CCD相机对暗箱内进行可视化控制，可清楚的观测光斑效果，使样品精准定位；下方为可调整样品台，样品台可按需定制为手动或电控驱动，搭配我公司多种的探针台或其他配件。这种模块化的灵活搭配方式，适合工业、科研用户建立多种类样品的测试平台
系统参数：
系统框图：
系统软件：
(a)集成分光系统、滤光片轮、数据采集器等参数设置功能
(b)测量项目选择，扫描参数设置
(c)自动扫描、信号放大、A/D、数据采集
(d)粗大误差的自动去除，通过统计学的数据处理手段进一步提高了系统测试结果的准确性
(e)多组数据对比功能
(f)图、表文件自动生成与显示
(g)多种格式的数据和图片备份和打印输出功能
